«Сейчас мы идём по пути тестовых участков на существующих производствах»

Замглавы Минпромторга Василий Шпак сообщил РИА Новостям, что в грядущем году в России начнут создавать полигоны для тестирования оборудования для производства микроэлектроники. По плану, они появятся в Москве, Зеленограде, Санкт-Петербурге и Новосибирске.

«Сейчас мы идём по пути тестовых участков на существующих производствах: освобождаем площадь и испытываем оборудование там. Конечно, нужны полноценные полигоны, которые позволяли бы собирать целые куски технологического маршрута, тестировать их и проверять работоспособность установленного оборудования. Мы работаем над этим, департамент станкостроения сейчас готовит соответствующую концепцию. Со следующего года мы создание таких полигонов запустим», — рассказал он. И добавил, что речь не о строительстве с нуля, а о реконструкции имеющихся площадей.

Окончательное решение относительно этой инициативы будет принято весной-летом 2024 года, заключил Шпак.

3 ноября, 2023

Подписаться на новости BIS Journal / Медиа группы Авангард

Подписаться
Введите ваш E-mail

Отправляя данную форму вы соглашаетесь с политикой конфиденциальности персональных данных

28.07.2026
Signal представил «исчезающие звонки»
28.07.2026
Следком — об ИКТ как «средстве достижения преступного результата»
28.07.2026
MFASOFT и Identity Blitz интегрировали свои продукты
28.07.2026
Выпуск eSIM может обернуться кражей номера
28.07.2026
Ещё одна утечка из контура чат-бота. Теперь — Claude
28.07.2026
Минус полумиллиона рублей — за неверное оформление SIM-карты
27.07.2026
«К сожалению, мощные ИИ-системы могут выйти из-под контроля»
27.07.2026
«АТЛАС Информационной Безопасности» расширяет портфель услуг за счёт решений «СёрчИнформ»
27.07.2026
ЦБ РФ не будет настаивать на принуждении к новому рублю
27.07.2026
«Яндекс» запустил единую платформу «Универсальный антифрод»

Стать автором BIS Journal

Поля, обозначенные звездочкой, обязательные для заполнения!

Отправляя данную форму вы соглашаетесь с политикой конфиденциальности персональных данных