Проживающие в США россияне Игорь и Денис Грушко были приговорены Федеральным судом Южной Флориды к 145 месяцам лишения свободы за кражу личности при отягчающих обстоятельствах, сговоре с целью завладения и использования украденных банковских карт, а также за изготовление поддельных кредитных карт и документов.

В материалах дела сказано: 33-летний Игорь и 29-летний Денис управляли предприятием по производству поддельных кредитных карт и документов в Форт-Лодердейле (Флорида, США).

В ходе обыска сотрудники Секретной службы США обнаружили резиновые формы и пластиковые смолы для изготовления скиммеров, сами скиммеры, накладки для банкоматов, видеокамеры, устройство для изготовления кредитных карт и считывающее устройство для магнитных лент с них, листы используемой в штате Мэриленд защитной голографической фольги и принтер для печати удостоверений личности, а также множество образцов поддельных кредитных карт и документов. На компьютере кардеров – тысячи номеров кредитных и дебетовых карт.

Соучастником братьев был гражданин Украины, 24-летний Вадим Вознюк, также проживающий в Форт-Лодердейле. Ему были предъявлены обвинения в сговоре с целью завладения и использования похищенных кредитных карт. Вознюк получил 27 месяцев лишения свободы.

24 января, 2020

Подписаться на новости BIS Journal / Медиа группы Авангард

Подписаться
Введите ваш E-mail

Отправляя данную форму вы соглашаетесь с политикой конфиденциальности персональных данных

07.09.2026
«Оператор фактически теряет и бизнес, и сети»
07.09.2026
Suzu Labs: Новое лицо получить невозможно
07.09.2026
Daybreak станет вкладом OpenAI в защиту слабых
07.09.2026
Thomson Reuters признала утечку судебных документов
07.09.2026
Олег Лиманский возглавил коммерческое направление Cloud.ru
07.09.2026
ANSSI призвало G7 начать переход к PQC уже сегодня
04.09.2026
НСФР: Деньги возьмут у абонентов, за интересы которых борется Минцифры
04.09.2026
«Алиса AI» сможет сканировать банковские приложения?
04.09.2026
Anthropic сделала послабление в отношении корпораций
04.09.2026
Минцифры — о требованиях к сертификатам безопасности НУЦ

Стать автором BIS Journal

Поля, обозначенные звездочкой, обязательные для заполнения!

Отправляя данную форму вы соглашаетесь с политикой конфиденциальности персональных данных